LD戻り光Noise測定装置LNTシリーズ
LD戻り光Noise測定装置
LD光源から出射した光が反射物により戻った時に生じる異常状態を観測、測定します。主にLDの開発、製造、光Pickupの開発等で使用します。使用する波長や共振器長により仕様が変わります。
自動偏光測定装置BMOシリーズ
自動偏光測定装置
主にDiskの製造時やDiskの材料で発生する内部の複屈折を計測します。光Pickupと等価な光学系を基準とし、より使用状態に近い光路での偏光量を計測することにより複屈折Parameterを算出します。
LBP Spot検査装置LBPシリーズ
LBP Spot検査装置
Laser Beam Printer光学系UnitのScan動作を停止した状態で出射する主走査、副走査BeamのNear Field Pattern（強度分布）を計測します。